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美國(guó)CMI MPS 微量分析空氣顆粒物【型號(hào)：MPS】
1.擁有專(zhuān)利技術(shù)的電子顯微采樣托盤(pán) 2、可直接將托盤(pán)放入顯微分析儀器進(jìn)行分析 3、采集顆粒物粒徑切割點(diǎn)低至0.05um
多級(jí)顯微分析空氣顆粒物采樣器專(zhuān)為掃描電鏡SEM、能量色散X射線(xiàn)光譜分析EDXS和其他顯微分析技術(shù)采集樣品而設(shè)計(jì)的。采樣器擁有嵌入撞擊級(jí)的標(biāo)準(zhǔn)電子顯微采樣托盤(pán)（專(zhuān)利），采樣后可將采樣托盤(pán)直接插入顯微鏡進(jìn)行分析，無(wú)需樣品前處理，減少分析費(fèi)用。
此外，樣品收集在小的集中點(diǎn)，分析時(shí)很容易定位在高濃度地方。并且可選擇不同類(lèi)型的基片材料用于各種顯微技術(shù)，如：X射線(xiàn)熒光分析XRF、投射電鏡TEM、傅里葉變換紅外光譜FTIR、氣相色譜/質(zhì)譜GC/MS。
應(yīng)用領(lǐng)域
- 半導(dǎo)體、制藥、航空航天等高精密制造工業(yè)污染控制
- 無(wú)塵室顆粒物污染分析
- 電腦硬盤(pán)顆粒物采樣
- 環(huán)境空氣、高層大氣顆粒物分析
MPS-4G1型 4級(jí)無(wú)塵室顯微顆粒物/氣溶膠采樣器
1.采集顆粒物粒徑切割點(diǎn)低至0.05um
2.流速：7lpm
3. 氣泵
4. 用于采集無(wú)塵室、顆粒物低濃度環(huán)境場(chǎng)合
MPS-3型 3級(jí)顯微顆粒物/氣溶膠采樣器
1.流速：2slpm
2. 采集顆粒物粒徑切割點(diǎn)低至0.05um
3. 氣泵
4. 用于電腦硬盤(pán)、環(huán)境空氣等顆粒物/氣溶膠采樣
5. 采樣器袖珍便攜
應(yīng)用案例
1．臺(tái)灣電力公司使用MPS-4G1型顯微分析顆粒物/氣溶膠采樣器采集核電站放射性氣溶膠，并將采集到的樣品用掃描電鏡進(jìn)行分析。
<!--[if !supportLists]--> 2． <!--[endif]-->Chuan,Raymond L. and William Chiang,Cascade impactor Colects Airborne Samples for Particle Identification. Solid State Technology,July,1985
<!--[if !supportLists]--> 3． <!--[endif]-->Chiang,William and Raymond L. Chuan, “The Cascade Impactor as a Particulate Chromatograph for Microanalysis of Aerosol Particles” Aerosols:Science,Technology,and Industruial Applications of Airborne Particles,Liu,Pui,and Fissan,eds.,Elaevier Science Publishing,New York,1984,99pp
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維修流程
- 1、技術(shù)溝通，初步判斷問(wèn)題電話(huà),與客戶(hù)進(jìn)行初步溝通、了解并初步判斷儀器所出現(xiàn)的故障問(wèn)題。
- 2、簽訂維修協(xié)議由我公司向客戶(hù)發(fā)送儀器維修協(xié)議，客戶(hù)需如實(shí)填寫(xiě)內(nèi)容并回傳以便我司對(duì)儀器做進(jìn)一步判斷。
- 3、客戶(hù)郵寄儀器客戶(hù)可按照我司地址郵寄儀器，并將快遞單拍照發(fā)送至您的專(zhuān)屬客服進(jìn)行備案。
- 4、詳細(xì)診斷機(jī)器故障我司收到郵寄儀器后會(huì)對(duì)郵寄的儀器進(jìn)行拍照并開(kāi)箱檢驗(yàn)，對(duì)儀器做進(jìn)一步故障判斷。
- 5、支付維修費(fèi)用如客戶(hù)儀器在保修期內(nèi)，我司不收取任何維修費(fèi)，如客戶(hù)儀器在保修期外，我司會(huì)適當(dāng)收取維修費(fèi)。
- 6、郵寄儀器給客戶(hù)我司將維修好的儀器按客戶(hù)地址進(jìn)行拍照并郵寄，自此雖維修協(xié)議終止，但我司將提供終身免費(fèi)答疑及技術(shù)指導(dǎo)。
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技術(shù)文檔下載
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