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 | Pentagon QIII LS Surface Particle CounterPentagon Technologies?系列表面顆粒檢測(cè)器是測(cè)量和控制表面污染的高科技市場(chǎng)的標(biāo)準(zhǔn)。積聚在關(guān)鍵表面或產(chǎn)品上的顆粒會(huì)降低產(chǎn)量和可靠性。用肉眼很難看到直徑小于100um的顆粒。這些顆粒快速沉降并逃脫常規(guī)空氣監(jiān)測(cè)。 QIII LS表面粒子探測(cè)器測(cè)量亞可見到可見范圍（5-300um）的粒子。 |
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 | Pentagon QIII Max surface particle counter五角大樓技術(shù)公司的QIII系列表面顆粒檢測(cè)（SPD）儀器是測(cè)量和控制表面顆粒污染的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) - 它變得更好。 新的QIII Max SPD包括我們的最新技術(shù)，其中包含許多增強(qiáng)功能，可用于當(dāng)今的關(guān)鍵清潔環(huán)境。 |
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 | Pentagon QIII Ultra surface particle count五角大樓技術(shù)公司的QIII系列表面顆粒檢測(cè)（SPD）儀器是測(cè)量和控制表面顆粒污染的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) - 它變得更好。新的QIII Ultra SPD包括我們領(lǐng)先的表面測(cè)量技術(shù)，分辨率低至0.1微米，并在當(dāng)今關(guān)鍵的清潔環(huán)境中使用了許多增強(qiáng)功能。 |
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