C-factor 與顆粒物密度、形狀及散射指數(shù)有關。要考慮不同的顆粒物類型，這對于經(jīng)常有不同類

型顆粒物污染的工作場所監(jiān)測非常重要。

若 C-factor 已經(jīng)確定，可直接通過 C-factor 鍵和[+]或[-]鍵來更改，會自動校準輸出的質量濃度結

果。若 C-factor 未知，可先設為默認值 1，通過濾膜測量后更改為所得的值（也可通過軟件調出相應的

測量文件）。

稱重需要一個高精度和高分辨率的微天平，如果分辨率為 10μg，則至少要采集 1mg 的顆粒物才

可忽略，采樣時間與顆粒物濃度和采樣流量有關。

確定 C-factor

1） 打開濾膜槽，拿出舊濾膜，用棉球棒清洗濾膜槽、樣氣通道和光學測量室。

2） 稱量一個新濾膜（至少 3 次）并記錄下均值。

3） 將稱過的新濾膜裝進濾膜槽，關閉蓋子。

4） 打開儀器，“Filter changed?”后按 YES[+]，重設濾膜重量。

5） 在有特征的地方使用儀器，操作和運輸時盡量保持 LCD 面朝上。

（除非測量結果有重大影響，開機時出現(xiàn)“Filter changed?”一般按[-]）

6） 在線所測濾膜重量，在工作模式或 standby 模式下同時按 Mean Weight 和[+]，也可通過超級終

端輸入命令獲得。

7） 采集足夠的顆粒物后（至少 1mg）可按 standby 退出測量模式進入 standby 模式，然后關閉儀

器。

8） 在運輸過程中避免擾動。

9） 小心將采集了顆粒物的濾膜拿出，不要損失顆粒物。稱量至少三次取均值，該值減去空濾膜

的重量值即為有效采集顆粒物的量。

10） 按以下方程計算 C-factor：

C ? factor ? 濾膜上顆粒物重量（采集后重量 – 空濾膜重量）

在線監(jiān)測顆粒物質量（儀器所顯示的）

為了提高精確度，應多做幾次測量。該值變化范圍應在基礎值的 30%以內，但金屬顆粒物的值會

更高。

此時可將 C-factor 輸入儀器中，LCD 上顯示的數(shù)據(jù)都是經(jīng)該因子校準過的。而存儲卡和經(jīng) RS232