標準粒子未經(jīng)3080 型靜電分級器處理，塵埃粒子計數(shù)器直接測量的各粒徑檔粒子數(shù)見表1． 標準粒子在0． 1、0． 2、0． 3、0． 5、0． 7、1． 0、2． 0、5． 0 μm 各粒徑檔所占百分比依次為77． 41%、21． 41%、1． 00%、0． 18%、0%、0%、0%、0%． 將3080 靜電分級器單分散粒子輸出的粒徑值設定于標準氣溶膠粒子的已知粒徑，而后氣溶膠粒子被引入塵埃粒子計數(shù)器測量，儀器測量的各粒徑檔粒子數(shù)見表2． 標準粒子在0． 1、0． 2、0． 3、0． 5、0． 7、1． 0、2． 0、5． 0 μm 各粒徑檔所占百分比依次為92． 18%、7． 72%、0． 09%、0． 01%、0%、0%、0%、0%． 由實驗結果可以看出，標準粒子采用靜電分級器輸出對比直接輸出塵埃粒子計數(shù)器測量中，標準粒子粒徑分布百分比在0． 1 μm 檔上從77． 41%升到92． 18%，而0． 2 μm檔上從21． 41%降到7． 72%，其它檔上的粒徑分布呈量級減少．2． 2 0． 199 μm 標準粒子與0． 126 μm 標準粒子測試方法相同，0． 199μm 標準粒子由塵埃粒子計數(shù)器直接測量的各粒徑檔粒子數(shù)見表3，經(jīng)粒徑值設定于已知粒徑的3080靜電分級器單分散輸出測量的各粒徑檔粒子數(shù)見表4． 前者實驗中標準粒子在0． 1、0． 2、0． 3、0． 5、0． 7、1． 0、2． 0、5． 0 μm 各粒徑檔所占百分比依次為20． 41%、79． 01%、0． 44%、0． 14%、0． 01%、0%、0%、0%． 后者實驗中標準粒子在0． 1、0． 2、0． 3、0 ． 5、0．7、1． 0、2． 0、5． 0 μm 各粒徑檔所占百分比依次為．40%、94． 54%、0． 05%、0． 01%、0%、0%、0%、0%．由實驗結果可以看出，標準粒子采用靜電分級器輸出對比直接輸出塵埃粒子計數(shù)器測量中，標準粒子粒徑分布百分比在0． 2 μm 檔上從79． 01%升到94．54%，而0． 1 μm 檔上從20． 41%降到7 ． 72%，其它檔上的粒徑分布呈量級減少．標定過程雖然建立了粒子計數(shù)器輸出信號與特定氣溶膠粒徑之間的對應關系，但并未消除粒子折光系數(shù)對輸出信號的影響． 當使用標定后的粒子計數(shù)器測量其他氣溶膠，計數(shù)器的顯示值并不是粒子的實際粒徑，而是與標定用標準粒子具有相同光學效果的等效粒徑． 因此，為了解經(jīng)標定后的塵埃粒子計數(shù)器在實際使用中的測量效果，將3080 靜電分級器單分散粒子輸出的粒徑值設定于0． 1 μm，塵埃粒子計數(shù)器測量單分散DOP 和大氣塵粒子在各粒徑檔的百分比見表5． 由實驗結果可以看出，塵埃粒子計數(shù)器對0． 1 μm 單分散DOP 和大氣塵粒子在0． 1 μm 粒徑檔上測量分布百分比均超過80%，在其他粒徑檔上的測量結果也基本一致．